다채널 번인(Burn-in) 노화 전류 시험 시스템 | 48채널 동기 측정 + 광범위 전류 레인지 솔루션
응용 배경
전자 제품의 복잡성과 집적도가 지속적으로 향상됨에 따라, 기업의 노화 전류 시험(Aging/Burn-in Current Test) 수요도 증가하고 있습니다.
본 사례 고객은 48채널 노화 전류 시험 채널을 보유하고 있으며, 무중단 동기 수집이 필요합니다.
| 정상 작동 | 약 80 mA |
| 정적(Static) 상태 | 10 μA |
이러한 시험은 다음을 요구합니다.
- 고정밀도
- 고효율
- 안정성
본 솔루션은 다음 분야에 직접 활용 가능합니다.
- 반도체 칩 번인 시험
- 전자부품 신뢰성 검증
- IC ATE(Automatic Test Equipment)
- MEMS 디바이스 노화 시험
- LED 모듈 신뢰성 시험
- 태양광 셀 노화 평가
- 배터리 셀 누설전류 측정
- 자동차 전자부품 신뢰성

도전 과제
1. 다채널 동기 수집
- 다수 채널의 노화 전류 동시 측정
- 각 채널의 시험 조건 일관성 보장
- 데이터의 동기 수집 실현
2. 광범위 전류 측정 레인지
- 80 mA (정상 작동) ~ 10 μA (정적 상태)
- 4자릿수 이상의 전류 다이내믹 레인지
- 일반적인 측정 장비로는 양 극단 모두 대응 어려움
3. 다채널·대용량 데이터 관리
- 채널 수가 많고 (48채널)
- 무중단 연속 수집
- 효율적 데이터 관리 능력 필요
솔루션
이 수요에 대응하여 JYTEK은 PXIe-6312 + TB-6312 접속 박스 조합을 추천했습니다.
시스템 구성

핵심 특장점
1. 광범위 전류 측정 (PXIe-6312 + TB-6312)
- TB-6312의 분류 저항기로 다양한 전류 범위 처리
- 최대 100 mA 측정 가능
- 다단 레인지 조절 기능 (Multi-range)
- 최소 1 μA 이하 측정 가능
- 4자릿수 이상 다이내믹 레인지 커버
2. 다수 카드 병렬 동기 수집
- 다수의 PXIe-6312 카드 병렬 작동
- 동기 수집 요구 충족
- 48채널 무중단 연속 측정
3. 채널 간 절연(Channel-to-channel Isolation)
- PXIe-6312의 채널별 절연 설계
- 채널 간 간섭 차단
- 한 DUT의 이상이 다른 DUT 측정에 영향 없음
4. 24비트 고분해능
- 미세 정적 전류(μA 단위) 정밀 측정
- 노화 트렌드 정밀 추적
사용 제품
하드웨어
PXIe-6312 — 채널 간 절연형 입력 모듈
- 16채널 24비트
- 채널 간 절연(Channel-to-Channel Isolation)
- 열전대 입력 + 전류 측정 양용
TB-6312 — 68핀 SCSI 차폐 입출력 커넥터
- 냉접점(CJC) 센서 내장
- 분류 저항기(Shunt Resistor) 내장
- 측정 범위: 1 μA ~ 100 mA
- 시험 장비 연결·보호

소프트웨어
SeeSharp® — C# 기반 오픈소스 측정 제어 플랫폼
- 별도 라이선스 비용 없음
- 다채널 동기 분석 라이브러리
- 자동 시험 시퀀스 + 통계 분석
적용 가능 분야
본 솔루션은 다음과 같은 신뢰성 시험에 활용됩니다.
- 반도체 칩 번인(Burn-in) 시험
- IC ATE (Automatic Test Equipment)
- 전자부품 노화 시험
- LED 신뢰성 평가
- MEMS 디바이스 노화
- 태양광 셀 노화 시험
- 배터리 누설전류 측정
- 자동차 전자부품 신뢰성
- 방산 전자장비 신뢰성 (HTRB, HALT)
- 수명 시험(Life Test) 일반
- 다채널 미세 전류 측정
- 광범위 다이내믹 레인지 측정
왜 JYTEK 인가?
1. SeeSharp® 측정 제어 플랫폼
C# 기반 강력하고 사용하기 쉬운 개발 환경
2. 검증된 제품 신뢰성
장기간 시장 검증을 거친 안정적인 성능
3. POC(Proof of Concept) 서비스
도입 전 무상 검증으로 사양 적합성 사전 확인
4. 빠른 납기
프로젝트 일정 보장
5. 비용 효율성
기존 고가 장비 대비 우수한 성능 + 합리적 가격
6. 기술 지원 + 빠른 응답
적시 대응으로 시험 임무 원활 진행 보장
7. 한국 직접 기술지원
제이와이텍코리아 엔지니어가 현장 대응 + 빠른 응답
결과
JYTEK PXIe-6312 입력 모듈과 TB-6312 접속 박스 + SeeSharp® 플랫폼 조합을 통해, 고객은 다채널 노화 전류의 동기 시험을 성공적으로 구현했습니다.
- ✅ 48채널 동시 수집 + 무중단 운영
- ✅ 1 μA ~ 100 mA 광범위 레인지 커버
- ✅ 정밀도와 동기성 요구 충족
- ✅ 24비트 분해능으로 μA 단위 정밀 측정
- ✅ 채널 간 절연으로 신뢰성 확보
- ✅ 고가성비 + 빠른 응답 서비스
본 사례는 JYTEK이 반도체·전자부품 신뢰성 시험 분야에서 강력한 측정 솔루션을 제공한다는 것을 보여줍니다. 번인 시험, ATE, 노화 평가 등 양산 라인 및 R&D에 직접 활용 가능합니다.

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